Metodi spettroscopici per l'analisi elementare
- ISBN/EAN
- 9788854846999
- Editore
- Aracne
- Formato
- Brossura
- Anno
- 2012
- Pagine
- 328
Disponibile
25,00 €
La spettroscopia atomica comprende un ampio insieme di metodi analitici strumentali, largamente impiegati per la determinazione qualitativa e quantitativa di elementi in campioni di diversa natura e interesse. I settori di applicazione sono infatti molteplici, dallo studio dell’ambiente al controllo della qualità degli alimenti, dalla ricerca medica alle esplorazioni geologiche, dalla metallurgia all’industria dei semiconduttori, dalla conservazione dei beni culturali alle indagini forensi.I principali metodi spettroscopici per l’analisi elementare sono qui presentati nei loro aspetti fondamentali, includendo la trattazione dei principi fisici alla base dei metodi stessi, la descrizione della strumentazione, la discussione delle potenziali interferenze e dei metodi per ridurle, l’esame delle prestazioni analitiche e le applicazioni più significative.Marco Grotti è Professore Associato di Chimica Analitica presso l’Università degli Studi di Genova. Dottore di Ricerca in Scienze Chimiche, ha effettuato studi sperimentalinei settori della Spettroscopia Atomica e della Chimica Ambientale, partecipando a diversi progetti nazionali ed internazionali, tra cui il Programma Nazionale di Ricerche in Antartide. È autore di 60 pubblicazioni su riviste scientifiche.
Maggiori Informazioni
| Autore | Grotti Marco |
|---|---|
| Editore | Aracne |
| Anno | 2012 |
| Tipologia | Libro |
| Num. Collana | 0 |
| Lingua | Italiano |
| Indice | Prefazione 17 Introduzione 19 1 Teoria della spettroscopia atomica 23 1.1 La radiazione elettromagnetica 23 1.2 Spettri atomici di emissione e di assorbimento 27 1.3 Interpretazione degli spettri atomici 29 1.4 Probabilità di transizione e intensità delle righe spettrali 42 1.5 Legge di Maxwell–Boltzmann 47 1.6 Effetto Zeeman 49 1.7 Ampiezza delle righe spettrali 52 1.7.1 Allargamento naturale 53 1.7.2 Allargamento per effetto Doppler 53 1.7.3 Allargamento per pressione 54 1.8 Proprietà fondamentali di un plasma 56 2 Spettrometria di emissione atomica 63 2.1 Introduzione 63 2.2 Spettrometria di emissione atomica con sorgente a fiamma 64 2.3 Spettrometria di emissione atomica con sorgente ad arco o scintilla 64 2.4 Spettrometria di emissione atomica con sorgente a plasma 66 2.4.1 Strumentazione 66 2.4.1.1 Sistema d’introduzione del campione 67 2.4.1.1.1 Nebulizzazione pneumatica 67 2.4.1.1.2 Nebulizzazione ad ultrasuoni 76 2.4.1.1.3 Generazione di idruri 79 2.4.1.1.4 Vaporizzazione elettrotermica 81 2.4.1.1.5 Tecniche cromatografiche 84 2.4.1.1.6 Ablazione mediante scarica elettrica 84 2.4.1.1.7 Ablazione laser 85 12 Indice dei contenuti 2.4.1.2 Sorgente a plasma 87 2.4.1.2.1 Plasma accoppiato induttivamente 87 2.4.1.2.2 Plasma in corrente continua 94 2.4.1.2.3 Plasma indotto da microonde 95 2.4.1.3 Sistema ottico 97 2.4.1.3.1 Ottica di trasferimento 97 2.4.1.3.2 Ottica di selezione 98 2.4.1.3.3 Prestazioni di un selettore di lunghezze d’onda 104 2.4.1.4 Rivelatore 108 2.4.2 Interferenze 111 2.4.2.1 Interferenze spettrali 112 2.4.2.2 Interferenze fisiche 118 2.4.2.3 Interferenze chimiche 120 2.4.3 Prestazioni analitiche e applicazioni 121 2.4.3.1 Applicabilità 122 2.4.3.2 Sensibilità e limiti di rilevabilità 122 2.4.3.3 Precisione 124 2.4.3.4 Accuratezza 124 2.4.3.5 Linearità 124 2.4.3.6 Confronto con le altre tecniche di spettrometria atomica 125 2.4.3.7 Applicazioni 125 2.5 Spettrometria di emissione atomica con sorgente a scarica a bagliore 127 2.6 Spettrometria a plasma indotto da laser 130 3 Spettrometria di assorbimento atomico 133 3.1 Introduzione 133 3.2 Strumentazione 134 3.2.1 Sorgente 135 3.2.2 Sistema di atomizzazione 142 3.2.2.1 Atomizzazione in fiamma 142 3.2.2.2 Atomizzazione elettrotermica 146 3.2.2.3 Generazione chimica di vapori 154 3.2.3 Sistema d’introduzione del campione 159 3.2.4 Sistema di correzione del fondo 160 3.2.4.1 Metodo della sorgente continua 161 3.2.4.2 Metodi basati sull’effetto Zeeman 162 3.2.5 Sistema ottico 169 3.2.6 Rivelatore 169 3.3 Interferenze 170 3.3.1 Interferenze spettrali 170 3.3.2 Interferenze fisiche 172 3.3.3 Interferenze chimiche 172 3.3.3.1 Interferenze chimiche nella FAAS 173 3.3.3.2 Interferenze chimiche nella ETAAS 174 3.3.3.3 Interferenze chimiche nella HG–AAS e CV–AAS 176 Indice dei contenuti 13 3.4 Prestazioni analitiche e applicazioni 178 3.4.1 Applicabilità 179 3.4.2 Sensibilità e limiti di rilevabilità 179 3.4.3 Precisione 180 3.4.4 Accuratezza 181 3.4.5 Linearità 181 3.4.6 Confronto con le altre tecniche di spettrometria atomica 181 3.4.7 Applicazioni 182 4 Spettrometria di fluorescenza atomica 185 4.1 Introduzione 185 4.2 Teoria 185 4.2.1 Transizioni di fluorescenza atomica 186 4.2.2 Intensità della radiazione di fluorescenza 187 4.2.3 Saturazione ottica 188 4.2.4 Autoassorbimento 189 4.3 Strumentazione 189 4.3.1 Sorgente 191 4.3.2 Atomizzatore 192 4.4 Interferenze 193 4.5 Prestazioni analitiche e applicazioni 193 5 Spettrometria di massa atomica 197 5.1 Introduzione 197 5.2 Spettrometria di massa con sorgente a plasma accoppiato induttivamente 198 5.2.1 Strumentazione 198 5.2.1.1 Sistema d’introduzione del campione 198 5.2.1.1.1 Nebulizzazione pneumatica 199 5.2.1.1.2 Nebulizzazione ad ultrasuoni 200 5.2.1.1.3 Generazione chimica di vapori 200 5.2.1.1.4 Analisi ad iniezione di flusso 201 5.2.1.1.5 Vaporizzazione elettrotermica 203 5.2.1.1.6 Tecniche cromatografiche 204 5.2.1.1.7 Ablazione laser 207 5.2.1.2 Sorgente a plasma 208 5.2.1.3 Interfaccia 210 5.2.1.4 Ottica ionica 212 5.2.1.5 Analizzatore di massa 215 5.2.1.5.1 Prestazioni di un analizzatore di massa 215 5.2.1.5.2 Analizzatore a quadrupolo 217 5.2.1.5.3 Settore magnetico a doppia focalizzazione 223 5.2.1.5.4 Analizzatore a tempo di volo 232 14 Indice dei contenuti 5.2.1.5.5 Considerazioni conclusive sull’analizzatore di massa 236 5.2.1.6 Cella di reazione/collisione 237 5.2.1.7 Rivelatore 241 5.2.1.7.1 Rivelatori digitali 242 5.2.1.7.2 Rivelatori analogici 243 5.2.1.7.3 Rivelatori a doppio stadio 244 5.2.1.7.4 Parametri di acquisizione del segnale 245 5.2.2 Interferenze 248 5.2.2.1 Interferenze spettrali 248 5.2.2.2 Interferenze non spettrali 254 5.2.3 Prestazioni analitiche e applicazioni 255 5.2.3.1 Applicabilità 255 5.2.3.2 Sensibilità e limiti di rilevabilità 256 5.2.3.3 Precisione 256 5.2.3.4 Accuratezza 258 5.2.3.5 Linearità 258 5.2.3.6 Confronto con le altre tecniche di spettrometria atomica 258 5.2.3.7 Applicazioni 259 5.3 Spettrometria di massa con sorgente a scintilla 260 5.4 Spettrometria di massa con sorgente a scarica a bagliore 262 5.5 Spettrometria di massa a ioni secondari 263 5.5.1 Teoria 263 5.5.2 Strumentazione 269 5.5.2.1 Colonna degli ioni primari 269 5.5.2.2 Sistema di estrazione degli ioni secondari 271 5.5.2.3 Analizzatore di massa 271 5.5.2.4 Rivelatori 272 5.5.3 Interferenze 273 5.5.4 Prestazioni analitiche e applicazioni 274 5.6 Spettrometria di massa con ionizzazione termica 276 6 Spettrometria atomica a raggi X 279 6.1 Introduzione 279 6.2 Fluorescenza di raggi X 279 6.2.1 Teoria 279 6.2.2 Strumentazione 283 6.2.2.1 Sorgente di raggi X 285 6.2.2.2 Selettore di lunghezze d’onda 288 6.2.2.3 Rivelatore 290 6.2.3 Prestazioni analitiche e applicazioni 292 6.3 Analisi mediante microsonda elettronica 293 6.4 Emissione di raggi X indotta da particelle 295Indice dei contenuti 15 7 Spettroscopia elettronica 297 7.1 Introduzione 297 7.2 Spettroscopia fotoelettronica a raggi X 298 7.2.1 Teoria 298 7.2.2 Strumentazione 301 7.2.2.1 Sorgente 302 7.2.2.2 Portacampione 302 7.2.2.3 Analizzatore 303 7.2.2.4 Rivelatore 304 7.2.3 Prestazioni analitiche e applicazioni 304 7.3 Spettroscopia Auger 305 7.3.1 Teoria 305 7.3.2 Strumentazione 307 7.3.3 Prestazioni analitiche e applicazioni 307 7.4 Visione d’insieme delle tecniche di analisi di superficie 308 Appendici 313 A1 Acronimi 313 A2 Simboli, unità di misura e fattori di conversione 316 A2.1 Grandezze fisiche, unità di misura e simboli 316 A2.2 Costanti fisiche fondamentali 317 A2.3 Fattori di conversione 318 A2.4 Prefissi moltiplicativi 319 A3 Glossario 320 Bibliografia 323 Fonti delle illustrazioni 324 |
| Disponibilità | Disponibilità: 3-5 gg |
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