Memorie In Sistemi Wireless
- ISBN/EAN
- 9788846467799
- Editore
- Franco Angeli
- Collana
- Scientifica
- Formato
- Brossura
- Anno
- 2005
- Pagine
- 352
Disponibile
40,00 €
Il volume è pensato sia come testo guida per un corso di tecnologie elettroniche, sia come compendio ai normali corsi di elettronica. Gli argomenti presentati, difficilmente reperibili ordinati e commentati in un volume unico, costituiscono un valido approfondimento anche a lettori già operanti nel campo dell'elettronica. Considerando il telefono cellulare come un sistema elettronico complesso, il testo ne esamina i vari componenti fondamentali e ne approfondisce uno in particolare: la memoria non volatile.
Maggiori Informazioni
| Autore | Micheloni Rino; Campardo Giovanni; Olivo Piero |
|---|---|
| Editore | Franco Angeli |
| Anno | 2005 |
| Tipologia | Libro |
| Collana | Scientifica |
| Lingua | Italiano |
| Indice | Rino Micheloni, Giovanni Campardo, Piero Olivo, Introduzione Piattaforme Hardware per terminali mobili di terza generazione (Introduzione; Le unità d'elaborazione; Il sistema di memoria; Il display; Il transceiver; Il bus; Conclusioni; Bibliografia) Memorie non volatili: NOR vs NAND (Introduzione; L'operazione di lettura nelle memorie FLASH; L'operazione di scrittura nelle memorie FLASH; Cancellazione; Bibliografia) Memorie Non-Volatili: Nuovi Concetti e Tecnologie Emergenti (Introduzione; Limiti e prospettive della tecnologia Flash; Memorie Emergenti: concetti, architetture, materiali; Bibliografia) Memory Card (Introduzione; Descrizione di una Flash card; I vari standard e formati; Applicazioni multimediali; Bibliografia) Multichip (Introduzione; Un triplo stacked: dalla fattibilità ai campioni; Dai campioni alla produzione; Valutazione degli effetti elettrici del package; La signal integrity; Guida alla realizzazione di un substrato; La realizzazione di un'analisi di signal integrity; Spettro dei segnali digitali; Testing dei Multichip: osservabilità, controllabilità e affidabilità; Integrazione Verticale; Soluzioni tecnologiche avanzate; Bibliografia) Gestione SW delle memorie flash: metodi e criticità (Introduzione; Il software di data management per flash; Modalità di gestione software delle memorie flash; Code Storage; Problematiche comuni nella gestione software di memorie flash; Architetture SW; Disk Emulator; Bibliografia) Codici a correzione d'errore (Introduzione; Cause d'errore nelle memorie flash; I concetti base dell'ECC; Effetto dell'ECC sulla probabilità d'errore; Il codice di Hamming; Applicazioni: memoria Flash di tipo NOR; Applicazioni: memoria Flash NOR multilivello; Codifica di Hamming algoritmica per blocchi di grandi dimensioni; Conclusioni; Bibliografia) Board Level Reliability (Introduzione; Bend Test; Drop Test; Ciclatura termica; Bibliografia) Affidabilità di sistemi wireless (Introduzione; Modelli previsionali dell'affidabilità; Miglioramento dell'affidabilità; Dimostrazione dei livelli di affidabilità; Screening/burn in, difettosità e fault tolerance; Bibliografia) Lettura di un Datasheet (Introduzione; Il contenuto della prima pagina; La ball out e i blocchi funzionali; Le principali operazioni permesse; Maximun Rating e DC-AC parameters; Confronto dei parametri DC fra le memorie del multichip; Come leggere le timing e le tabelle AC; Tempistiche di lettura per una memoria di tipo NOR; Tempistiche di lettura per una memoria di tipo RAM; Tempistiche di lettura per una memoria di tipo NAND; Tempistiche di modifica per una memoria di tipo NOR; Tempistiche di modifica per una memoria di tipo RAM; Tempistiche di modifica per una memoria di tipo NAND; Dalle tempistiche al testing; Bibliografia) Appendice |
| Stato editoriale | In Commercio |
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